为进一步推进武汉大学科研公共服务条件平台仪器设备全面开放共享，提高仪器的使用效率，满足学校师生的科研需求，平台特举办散射式近场光学显微镜（s-SNOM）第一期自主上机培训。

仪器介绍：散射式近场光学显微镜（简称s-SNOM)作为新型近场光学技术，使用散射点代替传统孔径(如光纤)，从而获得更高的空间分辨率。neaSCOPE系统利用其创新的高阶解调技术，通过采用高阶近场信号，有效的压制背景信号，从而获得高信噪比稳定的散射近场信号，解决了s-SNOM技术在实际应用中的难题，而其干涉式探测技术更是率先实现了近场信号强度和相位的同步测量。 

主要附件及配置s-SNOM优化的AFM成像系统；
1. s-SNOM近场成像系统（反射式探测模块适用于可见光、近红外和中红外广谱区域纳米成像）；
2. 拉曼高光谱成像模块650-2200 cm-1；
3. 拉曼/光致发光光谱模块（光谱范围950-1700 nm）。

培训具体安排和要求如下

1. 申请参加培训的用户需要征得课题组负责老师的同意，获得上机资格后，应为本课题组的样品提供测试支持。

2. 培训包括两次集中培训、三次自主练习以及考核，内容包括常规测试和软件使用。

3. 本期培训人数8人，原则上每个课题组参加人数限定为1人。平台会根据用户需求、样品数量等对报名申请培训人员进行筛选和培训时间的排序。

4. 此次培训不收费。

报名方式：扫描下方二维码填写相关信息

报名截止时间：2025年4月6日中午12时

培训地点：尖端科技楼202

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