武汉大学科研公共服务条件平台透射电子显微镜（JEM-2100Plus）已经安装调试完毕，即日起对校内开放试运行，欢迎校内师生预约测试！

一、基本参数

型号：JEM-2100Plus

厂家：日本电子株式会社（JEOL）

灯丝类型：LaB₆

加速电压：80 – 200 kV

线分辨率：0.14 nm

放大倍数：x 30 – 1.5 M

相机：JEOL Flash相机

能谱：JED2300 （60 mm²）

二、应用领域

透射电子显微镜（TEM）因具有较高分辨率，较好的微区分析能力，被广泛用于金属材料、半导体材料、有机复合材料等的形貌拍摄和结构表征。JEM-2100Plus采用多级聚光镜设计在任何束斑尺寸下都可以提供高亮度电子束，大大提高了分析和衍射成像能力。配备有日本电子JED2300特征X射线能谱探测器，用于定性分析材料元素组分，以及半定量分析各元素含量。JEM-2100Plus在材料的形貌拍摄、晶体结构表征、成分分析等方面可以发挥出重要作用。

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地点：武汉大学尖端科技楼101B

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