报告主题：《扫描电子显微镜及原位分析技术》

报告时间： 2022年5月26日15:00-16:00

报告地点： 尖端科技楼2楼报告厅

主 讲 人：童华教授

报告摘要：

  20世纪30年代 Knoll和Ardenne最早提出二次电子（SE）的散射模型，继而提出扫描电镜概念，利用高速电子与物质作用产生的各种物理信号进行微区分析，日渐成为材料分析的主要手段之一。

进入新世纪，随着场发射源和离子源的广泛应用，扫描电子显微技术有了长足进步，图像分辨率迅速推进到亚纳米水平。除常规的微区形貌和成分分析，还可进行材料的微纳加工和构筑。科技进步推动SEM向多功能综合分析平台的方向发展，各类SEM相关原位技术日趋成熟：结合温度场、力场、电场，原位反应池等原位手段，可实时动态观察不同负荷条件下材料的形变和微观赋形状态；低真空环境扫描技术可免除复杂的样品处理；EBSD(电子背散射衍射)实现了晶格水平的微结构分析；与分子光谱的结合使SEM原位成分分析增加了化学状态即官能团信息；SIMS（二次离子质谱）技术的引入拓展了SEM元素分析范围并实现成分纵向梯度分布分析。新的技术革命和革新使这个既传统又崭新的显微技术异彩纷呈，为解决关键科学技术问题提供了更多的可能。

主讲人介绍：

童华，博士，武汉大学教授，博士生导师，曾任九三学社湖北省文教专业委员会委员，湖北省化学化工学会谱学专业委员会主任委员，中国分析测试协会理事。主要研究领域包括文物分析与化学保护，生物复合材料的仿生合成，纳米储能材料等。先后主持2项国家重点纳米材料专项、4项国家自然科学基金、1项科技支撑计划（子项目）以及省部级和横向项目30余项。发表学术论文120余篇。