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专题报告：表面分析技术XPS/AES/SIMS在高校分析测试中心的应用

2024-11-16

报告时间：2024年11月19日14:00


报告地点：武汉大学尖端科技楼2楼报告厅


报告人简介：叶上远，爱发科费恩斯（南京）仪器有限公司总经理。毕业于南非开普敦大学电动与电子工程学系。有超过20年在表面分析相关领域的经验。目前作为爱发科费恩斯（南京）仪器有限公司的总经理，主要专业包括X射线光电子能谱仪（XPS），俄歇电子能谱仪（AES）和飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）相关的表面分析技术。


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