主要配置：光管（固定Cu靶），CBO系统（聚焦光路/平行光路），模拟点光源，狭缝系统，测角仪，二维检测器，CCD自动定位系统

附件配置：标准样品台，ASC48位样品台，XY-20mm样品台，高温样品台，毛细管样品台，4英寸晶片样品台，准直管样品台

技术指标：2θ转动范围为-10~160°，测角仪半径为300 mm，测角圆直径可连续改变。最小步长0.0001，角度重现性0.0001。

本台多晶粉末衍射仪配置丰富，可自由切换聚焦光路、平行光路与模拟点光源，实现对常规粉末样品、块状样品、薄膜样品等的物相分析；模拟点光源配置微区模块可实现手动选点并自动逐点测量；配置高温模块可实现样品在不同温度条件下的原位物相分析。用于多晶材料物相分析，可实现粉末样品、块状样品的物相分析。平行光路模块可测薄膜厚度、反射率以及毛细管样品透射等。微区模块可实现选区和对所选点自动逐点测量。高温模块可升温至1450℃，实现原位物相分析。

1. 样品可以是金属、非金属、有机、无机材料粉末。

2. 粉末样品要求充分研磨，粒度约320目， 40 μm；样品量要求在3 g左右；

3. 金属样品如块状、板状、圆拄状要求磨成一个平面，面积不小于5×5 mm；厚度不超过5 mm;　

4. 片状、圆柱状等存在严重择优取向的样品会造成衍射强度异常，用户应合理选择相应的方向平面；

5. 测量金属样品的微观应力（晶格畸变），测量残余奥氏体，不能简单粗磨，要求制备成金相样品，并进行普通抛光或电解抛光，消除表面应变层。

6. 对于特殊的样品可以讨论协商提出衍射实验方案。

1. 粉末粒径对衍射结果有何影响？

2. 粒度粗大衍射强度底，峰形不好，分辨率低。

3. 如何确定未知物的物相？

4. 如果对样品的成分不了解可以先利用其他测试手段测定成分，为X射线衍射分析提供成分信息。再根据衍射的结果进行进一步物相分析。　

5. 样品表面不平整对结果有何影响？

6. 样品表面不平可能导致衍射峰位偏移，X射线衍射实验的准确性和实验得到的信息质量好与坏与样品的制备有很大关系，因此，希望用户能够合理处理样品和制备样品。