透射式电子显微镜 JEM-2100plus-武汉大学科研公共服务条件平台

型号：

JEM 2100Plus

厂商：

日本电子株式会社

地点：

尖端科技楼101B

联系：

李雷 13163286278

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点分辨率：0.23 nm
线分辨率：0.14 nm
加速电压：80、200 kV
放大倍率：MAG模式2,000-1,500,000倍
Low MAG模式30-6,000倍
SA MAG模式8,000-800,000倍

JEM-2100Plus透射电镜通过明场像，能够清晰地拍摄样品的形貌；
能够拍摄选区电子衍射花样和高分辨图像，解析样品的微观结构；
搭载有EDS能谱探头，能够定性和半定量分析材料的元素组分。

样品干燥，洁净，无磁性；
样品状态：（1）用户自己制备好的微栅或碳膜样品；（2）已经使用乙醇超声分散的纳米样品；（3）纳米线、纳米片或纳米粉末等样品；（4）使用聚焦离子束（FIB）制备的TEM样品。