仪器设备
X射线光电子能谱仪 ESCALAB 250Xi
型号:

ESCALAB 250Xi

厂商:

美国Thermo Fisher公司

地点:

科研公工服务条件平台测试中心C-110

联系:

刘英 18942908910; 68752439-8108

技术参数

单色Al Ka大面积XPS:能量分辨率 (eV) 灵敏度(CPS)
≤0.5 400000
≤0.6 1000000
≤1.0 2500000
最佳空间分辨率优于20 um。
成像XPS空间分辨率优于3 um。

功能特色

仪器除常规单色化源XPS外,还配备有紫外光电子能谱(UPS), 反射电子能量损失谱(REELS),离子散射谱( ISS), 角分辨XPS(ARXPS),单氩离子及团簇离子一体的双模式离子枪,非单色镁铝双阳极靶以及原位加热冷却装置等。XPS是一种应用广泛的表面分析方法(10nm以内),可对周期表中除了H, He外的所有元素进行定性、定量和价态分析;结合离子束刻蚀可进行片状或薄膜材料的深度分析;UPS可分析导电样品的价带结构,测量样品的表面功函数等。

测试案例

收费标准

常规XPS测试:600元/样(5个元素含C和O)(校内250元),每增加一个元素加收100元(校内50元),XPS测价带谱700元/样(校内半价,含常规XPS谱图);

UPS测试:600元/样(校内半价)

深度剖析(单氩离子刻蚀):1800元/样起(3个点,深度方向每增加一个点600元,团簇离子刻蚀价格面议)(校内半价)

ARXPS(角分辨XPS):1800元/样起(3个角度起)

成像XPS、 变温XPS(150 K ~ 1000 K):价格面议

自主上机150元/样

样品要求

固体样品:可以为粉末、片状或纤维,无放射性,在超高真空条件下稳定不挥发,要求真空干燥(建议120度真空干燥2小时以上),常规XPS测试的片状样品最好控制尺寸为4*4mm以内,厚度1mm以内,粉末样尽可能碾磨为细粉,约10~20mg。 UPS测试样品应为新鲜制备的片状导电样,尺寸不小于5*5mm,厚度3mm内。

Q&A