透射式电子显微镜 F200-武汉大学科研公共服务条件平台

型号：

JEOL JEM-F200

厂商：

日本电子株式会社

地点：

尖端科技楼101C

联系：

李雷 13163286278

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TEM点分辨率：0.23 nm
TEM线分辨率：0.1 nm
STEM分辨率：0.16 nm
加速电压：200，80 kV
放大倍率：MAG模式 2000–2M倍
Low MAG模式 50–6,000倍
STEM模式100–150M倍

JEM-F200透射电镜搭载有场发射电子枪，能够达到更高的分辨率。自动化测角台，能够实现自动进出样品杆。配备有双探头超级能谱仪，能够实现原子级EDS mapping。搭载有Gatan底插Oneview相机，在4k x 4k的全幅分辨率下可以以25fps的帧速率进行实时观察。

样品干燥，洁净，无磁性；
样品状态：（1）用户自己制备好的微栅或碳膜样品；（2）已经使用乙醇超声分散的纳米样品；（3）纳米线、纳米片或纳米粉末等样品；（4）使用聚焦离子束（FIB）制备的TEM样品。