JEOL JEM-ARM300F
日本电子株式会社
尖端科技楼101A
李雷 13163286278
电子枪:冷场发射电子枪(CFEG)
加速电压:40-300 kV
球差校正器:JEOL十二极子球差校正器(物镜/聚光镜)
TEM晶格分辨率:50 pm/300 kV
TEM信息分辨率:60 pm/300 kV
STEM分辨率: 52 pm/300 kV
SAAF探头:八分割环形全场探测器
EDS分辨率:优于133 eV(MnKα线)
EELS分辨率:优于0.35 eV
数字相机:Gatan Oneview
GIF相机:Gatan K3
JEOL球差校正器和控制软件 (JEOL COSMOTM) 提能够供快速准确的球差校正。配备有高性能EDS探头(双EDS探头,158 mm2),能够拍摄精细的EDS mapping。配备直接电子探测的K3 GIF相机,可以进行低电子剂量的EELS分析和图像拍摄。标配冷场发射电子枪(CFEG),可提供高亮度、高稳定性和较小能量扩展的束流。全封装外壳提升了电镜稳定性。
样品干燥,洁净,无磁性;
样品状态:(1)用户自己制备好的微栅或碳膜样品;(2)已经使用乙醇超声分散的纳米样品;(3)纳米线、纳米片或纳米粉末等样品;(4)使用聚焦离子束(FIB)制备的TEM样品。