11月19日上午，科研公共服务条件平台组织召开设备技术验收会议，对200kV场发射透射电子显微镜JEM-F200、200kV六硼化镧透射电子显微镜JEM-2100Plus以及相关附件纳米等离子清洗仪、氩离子抛光仪、透射电镜原位力电测量系统进行了技术验收。来自于武汉理工大学、华中科技大学以及我校的5位专家组成了验收评审专家组，武汉大学实验室与设备管理处副处长吴红波主持验收会，经过会议专家推举，由吴劲松教授任专家组组长。受疫情防控影响，验收会采取了线上线下相结合的方式。

吴红波代表学校对参加会议的各位领导、专家表示热烈欢迎。王建波对项目的整体情况做了简要介绍。日本电子严雪部长、上海微纳衡潘总经理、泽优科技许智总经理先后致辞，纷纷表示非常珍惜和武汉大学的合作机会，将一如既往地为武汉大学的科研发展、人才培养提供支持，同时对售后服务进行了承诺。

会上，验收专家组依次听取了厂家工程师和平台李雷博士分别对安装调试和技术指标达标情况的报告、使用情况的报告，审阅了技术服务协议、性能指标等材料。听取报告后，验收组专家就主机的实验室环境、标样、超级能谱等问题，配件的抛光面积、耗时、电脉冲以及耗材费用等问题进行了质询。

质询环节后，验收组专家们实地考察了两台透射电镜以及配件的运行情况，李雷老师认真解答了专家提出的问题。

经过报告、质询和讨论，验收专家组一致认为，两台透射电镜以及配件符合合同规定；设备运行正常，各项技术性能指标达到采购要求；经过培训，平台机组人员掌握操作规程及方法。与会专家一致同意通过验收。

撰稿：仲秋

拍摄：仲秋

审核：王建波