9月19-21日，平台与日本电子联合开展了透射电镜F200高级应用培训。19日上午，日本电子TEM应用工程师张楠作了题为《透射电子显微镜原理与应用》的报告，详细介绍了透射电镜的构造、工作原理和实际应用，并为现场校内外的师生进行了答疑。

随后，在平台透射电镜实验室，张楠工程师进行了为期三天的上机操作培训。参加此次培训的有平台透射电镜机组的老师，学校其他院系的透射电镜负责老师，还有来自武汉理工大学，武汉科技大学，三峡大学，湖南纳微新材料等校外单位的透射电镜仪器负责人。

此次培训涵盖了透射电镜F200的光路调试，样品形貌、选区衍射、纳米束和会聚束衍射、高分辨图像的调试和拍摄，TEM模式下BF和DF图像以及STEM模式下HAADF、ABF、BF和SE图像的拍摄，日本电子能谱软件的详细使用方法以及能谱数据的分析等。培训结束后，工程师和各位老师就相关的疑难问题进行了现场讨论和解答。

图文：李雷

审核：王建波