11月19日，平台特邀爱发科费恩斯（南京）仪器有限公司的总经理叶上远先生，带来了一场题为“表面分析技术XPS/AES/SIMS在高校分析测试中心的应用”的专题报告。本次专题报告会由平台的刘英副教授主持，吸引了众多对表面分析技术感兴趣的师生参与。

叶经理的报告聚焦于表面分析这一关键领域，通过对XPS、AES、TOF-SIMS和D-SIMS这四种表面成分分析技术的细致对比，清晰地揭示了它们之间的异同点。他逐一介绍了每种技术在各自表征领域的独特优势和应用场景，使听众们对这些技术有了更为全面和深入的理解。

此外，他还结合具体案例，分享了表面分析技术在半导体、Li离子电池、薄膜型全固态电池等高科技领域的广泛应用，进一步展示了这些技术的实用价值和广阔前景。

报告结束后，叶经理与参会师生进行了深入交流，对离子束刻蚀中Xe离子源的优势、高能Cr靶在实际粉体样品中的应用以及TOF－SIMS对离子团进行定量分析等问题进行了进一步的探讨。

此次专题报告不仅为广大师生和科研人员提供了一个难得的学习和交流机会，更让大家深刻感受到了表面分析技术的魅力和价值。

图文：吴龙霞 仲秋

审核：王建波